J-RAS离子迁移试验装置

J-RAS离子迁移试验装置

绝缘抵抗测定器

型号：ECM-100

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION）,并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING） 适用规格：JPCA-ET01-2001

J-RAS离子迁移试验装置 

特点：

①简单便利

由于采用了高侧计测，削减了对样品的焊接工时。

通过简单操作的软件，可以进行直观的操作。

在记录和报告过程中配备了方便的报告功能。

试验中测试仪可以单独工作，可以切断电脑的电源。

②高机能

通过对每个频道单独配备的外加测量电路，实现16ms的测量间隔。

泄漏接触现象的检测能力高，可靠性试验的“质量"提高。

一台电脑可增设多达400个通道

每个通道有不同的测试电压。

③高信赖性

通过自我诊断功能防止异常测量。

易于拆卸的单元结构，易于维护。

用途

印刷电路板、焊锡、树脂、导电性粘合剂、绝缘材料等的电化学迁移(离子迁移)评价。