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J-RAS离子迁移试验装置

简要描述:J-RAS离子迁移试验装置
绝缘抵抗测定器
型号:ECM-100
用途:印刷电路板、焊锡、树脂、导电性粘合剂、绝缘材料等的电化学迁移(离子迁移)评价。

  • 产品型号:ECM-100
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-12-07
  • 访  问  量:735
详细介绍
品牌J-RAS应用领域化工,建材,电子,汽车,电气

J-RAS离子迁移试验装置

绝缘抵抗测定器

型号:ECM-100

 

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE,经过长时间的测试(11000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION,并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING) 适用规格:JPCA-ET01-2001


J-RAS离子迁移试验装置 

特点:

①简单便利

由于采用了高侧计测,削减了对样品的焊接工时。

通过简单操作的软件,可以进行直观的操作。

在记录和报告过程中配备了方便的报告功能。

试验中测试仪可以单独工作,可以切断电脑的电源。

②高机能

通过对每个频道单独配备的外加测量电路,实现16ms的测量间隔。

泄漏接触现象的检测能力高,可靠性试验的“质量"提高。

一台电脑可增设多达400个通道

每个通道有不同的测试电压。

③高信赖性

通过自我诊断功能防止异常测量。

易于拆卸的单元结构,易于维护。

 

用途

印刷电路板、焊锡、树脂、导电性粘合剂、绝缘材料等的电化学迁移(离子迁移)评价。


 


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