X射线荧光分析仪技术特点介绍

　　X射线荧光分析仪技术特点介绍：
 

　　1、X射线荧光分析仪在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出*具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

 

　　2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
 

　　3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
 

　　4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
 

　　5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。