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X射线荧光分析仪技术特点介绍

时间:2021-10-15 点击次数:238
  X射线荧光分析仪技术特点介绍:
 
  1、X射线荧光分析仪在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出*具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
 
  2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
 
  3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由此产生了重叠峰。自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
 
  4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
 
  5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

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