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J-RAS离子迁移试验装置ECM-500系列

简要描述:J-RAS离子迁移试验装置ECM-500系列
绝缘抵抗测定器
型号:ECM-500
用途:印刷电路板、焊锡、树脂、绝缘材料等的迁移评价。

  • 产品型号:ECM-500/40-n
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-12-07
  • 访  问  量:893
详细介绍
品牌J-RAS应用领域建材,电子,航天,汽车,电气

J-RAS离子迁移试验装置ECM-500系列

绝缘抵抗测定器

型号:

ECM-500/40-n

ECM-500/100-n


 

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压(BIAS VOLTAGE,经过长时间的测试(11000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生(ION MIGRATION,并记录电阻值变化状况,故又叫做 CAF 试验,绝缘阻力电阻试验,或者是 OPEN/SHORT 试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING) 适用规格:JPCA-ET01-2001

 

可在1v ~ 500v的宽外加电压和CH个别电压输出下进行各种样品的测试

通过配备信道单独计测电路进行50msec/CH的高速扫描处理

用响应速度低于100nsec的瞬时泄漏电流检测电路,捕捉到泄漏触摸现象

多达100ch的壳体小型轻量,不选择场所设置,移动也容易

利用仓门打开的接点进行紧急停止或暂时停止的安全功能

采用不同CH的彩色电缆,减少焊接作业的负担,防止出错。

简单易用的软件

 

J-RAS离子迁移试验装置

用途

印刷电路板、焊锡、树脂、绝缘材料等的迁移评价。

多达500v的外加电压可满足汽车电子相关厂商的测试要求。


 


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