SR-LEDW 分光辐射计

SR-LEDW 分光辐射计  特征

￭ 量程较宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。

￭ 搭载FIX模式，可缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)

￭ 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。

￭ 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。

SR-LEDW 分光辐射计  主要用途

￭ LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。

￭ LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。

￭ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。

￭ 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。

产品概要

本产品量程较为宽广，可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的高对比度；

可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价高亮度级LED的光学特性。通过新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，从而缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品可应用于LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的管理。

特征

￭ 量程较宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。

￭ 搭载FIX模式，可缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)

￭ 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。

￭ 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。

主要用途

￭ LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。

￭ LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。

￭ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。

￭ 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。