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    X-Strata920日立镀层测厚仪
    日立镀层测厚仪 X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。
    型号：X-Strata920    厂商性质：经销商
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